CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2004-2010年
分离并再放置纳米颗粒的方法
汪颖; 张益; 胡钧
Date Available2013-01-23
Country中国
Subtype发明专利
Abstract本发明公开一种分离并再放置纳米颗粒的方法, 包括下列步骤:1)将原子力显微镜针尖进行化学修饰;2)按常 规方法利用原子力显微镜对固定在基底表面的纳米颗粒样品 进行成像,然后选择所需进行纳米操纵的单个颗粒,并使该针 尖与纳米颗粒接触;3)进一步使针尖的侧臂与该颗粒接触,并 使该颗粒粘在针尖侧臂上,从而实现单个纳米颗粒的拾取;4) 接着控制原子力显微镜将该粘有颗粒的针尖定位到所预设的 基底表面位置,将纳米颗粒放置于该位置。从而能完成对纳米 颗粒逐个进行拾取、转移、放置的一系列操纵,克服了其它纳 米操纵方法无法将颗粒转移到其它基底、或只能进行二维“推 动”操纵的局限性,为纳米水平的制造和控制提供一种新的有 效手段。
Subject AreaB82b3/00
Funding Project应物所课题组
Language中文
Status20090506 授权
Application NumberCN200410067418
Patent Agent薛琦
Document Type专利
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/10479
Collection中科院上海应用物理研究所2004-2010年
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GB/T 7714
汪颖,张益,胡钧. 分离并再放置纳米颗粒的方法.
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