CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2004-2010年
一种用于重金属离子现场检测的无动力微流控芯片及其制作和使用方法
樊春海; 宋世平; 何世江
Date Available2013-01-23
Country中国
Subtype发明专利
Abstract本发明公开了一种用于重金属离子现场检测的多通道无动力微流控芯片 及其制作和使用方法。该微流控芯片包括基片层以及与该基片层相封接的通 道片层,该通道片层包括单个或多个通道,该通道两端分别连接有进样孔和 出样孔;该基片层和该通道片层均由聚二甲基硅氧烷材料制成,该通道片层 的厚度为8mm至20mm。该芯片的进样方式不需外部能量,仅仅利用聚二甲 基硅氧烷的存储气体的能力,经过抽真空前处理就可以达到现场使用的效果。 本微流控芯片与不同种类的纳米金探针结合,适用于现场不同种类的重金属 离子实时快速检测。
Subject AreaG01n31/00 ; G01n33/48 ; G01n35/00
Funding Project应物所课题组
Language中文
Status20101215 授权
Application NumberCN200810202738
Patent Agent邓 琪
Document Type专利
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/10622
Collection中科院上海应用物理研究所2004-2010年
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GB/T 7714
樊春海,宋世平,何世江. 一种用于重金属离子现场检测的无动力微流控芯片及其制作和使用方法.
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