CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2004-2010年
用于掠入射XAFS方法的样品台
魏向军; 李丽娜; 于海生; 黄宇营; 姜政; 高倩
Date Available2013-01-23
Country中国
Subtype发明专利
Abstract本发明提供一种用于掠入射XAFS方法的样品台,包括由上至下依次连接的样品支架、第一角位台、第二角位台、旋转台、升降台和平移台,所述旋转台和平移台分别由与一控制系统相连的电机控制,所述旋转台和所述平移台上分别设有与所述控制系统相连的光栅尺。本发明用于掠入射XAFS方法的样品台,对样品的旋转角度和平移位置实现闭环控制,进而精确调整X射线的穿透深度,提高了表面及薄膜样品掠入射XAFS谱的采集信噪比。
Subject AreaG01n23/223
Funding Project应物所课题组
Language中文
Status20120815 公开
Application NumberCN201210074161
Patent Agent邓琪
Document Type专利
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/10625
Collection中科院上海应用物理研究所2004-2010年
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GB/T 7714
魏向军,李丽娜,于海生,等. 用于掠入射XAFS方法的样品台.
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