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~(67)Ga衰变的某些K壳内转换系数的测定 | |
郑万辉; 朱家璧; 顾加辉; 田家祺 | |
1982-06-30 | |
Source Publication | 核技术
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Issue | 06 |
Abstract | <正> 使用Si(Li)电子谱仪和Ge(Li)γ谱仪测定了~(67)Zn的5个跃迁的K内转换系数α_K。测量中使用归一化γ峰比电子峰的方法(NPG)。对以上二种探测器进行效率刻度;用BASIC语言编制γ谱和e谱的寻峰、求面积程序;在DIDAC-MULTI(8)系统上运算。 |
Indexed By | CNKI |
Language | 中文 |
Funding Project | 原子核所项目组 |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/10752 |
Collection | 中科院上海原子核所2003年前 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 郑万辉,朱家璧,顾加辉,等. ~(67)Ga衰变的某些K壳内转换系数的测定[J]. 核技术,1982(06). |
APA | 郑万辉,朱家璧,顾加辉,&田家祺.(1982).~(67)Ga衰变的某些K壳内转换系数的测定.核技术(06). |
MLA | 郑万辉,et al."~(67)Ga衰变的某些K壳内转换系数的测定".核技术 .06(1982). |
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