CAS OpenIR  > 中科院上海原子核所2003年前
X射线荧光分析的α系数法校正
林森浩
1985-06-30
Source Publication核技术
Issue06
Abstract<正> X射线荧光分析中对厚靶基体的吸收增强效应必需进行校正。α系数法是应用得很广泛的一种校正方法。本文在Lachance-Traill数学模型的基础上增加了待测元素对其自身的特征X射线荧光强度影响的校正项。 假定某样品的基体中含有N种元素;它们的含量及X射线的相对强度分别为C_1;C_2……C_N及R_1;R_2……R_N;其中第i种元素的含量可根据下列半经验公式计算
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project原子核所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11046
Collection中科院上海原子核所2003年前
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GB/T 7714
林森浩. X射线荧光分析的α系数法校正[J]. 核技术,1985(06).
APA 林森浩.(1985).X射线荧光分析的α系数法校正.核技术(06).
MLA 林森浩."X射线荧光分析的α系数法校正".核技术 .06(1985).
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