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X射线荧光钛涂层厚度测量仪 | |
徐君权; 乐安全; 韩发生; 朱节清; 谷英梅 | |
1986-03-02 | |
Source Publication | 核电子学与探测技术
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Issue | 01 |
Abstract | 本文介绍一种X射线荧光测厚仪;用以测量钢基及钨基上的碳化钛或氮化钛涂层厚度。仪器测量范围为0.1—20μm;测量孔径为4mm。 |
Indexed By | CNKI |
Language | 中文 |
Funding Project | 原子核所项目组 |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11047 |
Collection | 中科院上海原子核所2003年前 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 徐君权,乐安全,韩发生,等. X射线荧光钛涂层厚度测量仪[J]. 核电子学与探测技术,1986(01). |
APA | 徐君权,乐安全,韩发生,朱节清,&谷英梅.(1986).X射线荧光钛涂层厚度测量仪.核电子学与探测技术(01). |
MLA | 徐君权,et al."X射线荧光钛涂层厚度测量仪".核电子学与探测技术 .01(1986). |
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