CAS OpenIR  > 中科院上海原子核所2003年前
YH-84X荧光涂层测厚仪——涂层厚度的无损检测仪器
乐安全
1991-09-15
Source Publication现代科学仪器
Issue03
Abstract<正> 引言为了提高产品或零部件的耐磨性、耐锉性或改善其外观装饰;常在其表面涂(镀)一层很薄的保护层或装饰层。由于这些涂层的厚度不仅会影响产品质量;还与产品成本密切有关;因此对涂层厚度进行快速无损检测有着明显的实用价值和经济效益。X 射线荧光测厚是70年代迅速发展起来的一项新技术;β射线反散射测厚早在50年代已用来测量较大面积涂层的平均厚度;这些都属于非破坏性无损检洲方法。但是β射线反散射测厚有它的局限性;只有当涂层和基底材料的原子序数差大于二者平均值的
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project原子核所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11048
Collection中科院上海原子核所2003年前
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GB/T 7714
乐安全. YH-84X荧光涂层测厚仪——涂层厚度的无损检测仪器[J]. 现代科学仪器,1991(03).
APA 乐安全.(1991).YH-84X荧光涂层测厚仪——涂层厚度的无损检测仪器.现代科学仪器(03).
MLA 乐安全."YH-84X荧光涂层测厚仪——涂层厚度的无损检测仪器".现代科学仪器 .03(1991).
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