Knowledge Management System Of Shanghai Institute of Applied Physics, CAS
背散射法测定低能氩离子对金的溅射率 | |
明嘉增; 陈国明; 周祖尧; 任琮欣; 杨絜; 傅新定; 朱德彰; 曹德新 | |
1987-09-28 | |
Source Publication | 核技术
![]() |
Issue | 09 |
Abstract | 本文用背散射方法测定了300—1200eV不同能量的氩离子对金的溅射率。实验测得的背散射能谱用两种不同的方法(能量损失和面积法)处理;结果表明;用背散射法测得金的溅射率与G.K.Wehner用称重法测定的数据很接近;其与入射离子能量的关系为Y∝E~(0.4)。 |
Indexed By | CNKI |
Language | 中文 |
Funding Project | 原子核所项目组 |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11097 |
Collection | 中科院上海原子核所2003年前 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 明嘉增,陈国明,周祖尧,等. 背散射法测定低能氩离子对金的溅射率[J]. 核技术,1987(09). |
APA | 明嘉增.,陈国明.,周祖尧.,任琮欣.,杨絜.,...&曹德新.(1987).背散射法测定低能氩离子对金的溅射率.核技术(09). |
MLA | 明嘉增,et al."背散射法测定低能氩离子对金的溅射率".核技术 .09(1987). |
Files in This Item: | ||||||
File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
背散射法测定低能氩离子对金的溅射率.ca(199KB) | 开放获取 | License | View Application Full Text |
Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Edit Comment