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采用弹性反冲分析法同时测量薄膜中氢和氘的深度分布 | |
王运来; 宋世战 | |
1997-10-10 | |
Source Publication | 核技术
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Issue | 10 |
Abstract | 给出由重叠反冲能谱计算氢和氘的浓度及深度分布的解谱技术。用4.5MeV和4.2MeV的α粒子作入射粒子得到两个反冲能谱;在考虑和不考虑能量展宽效应的情况下分析了钛膜中氢和氘的深度分布;发现考虑能量展宽效应的影响得到的氢和氘的深度分布是令人满意的。 |
Indexed By | CNKI |
Language | 中文 |
Funding Project | 原子核所项目组 |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11130 |
Collection | 中科院上海原子核所2003年前 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 王运来,宋世战. 采用弹性反冲分析法同时测量薄膜中氢和氘的深度分布[J]. 核技术,1997(10). |
APA | 王运来,&宋世战.(1997).采用弹性反冲分析法同时测量薄膜中氢和氘的深度分布.核技术(10). |
MLA | 王运来,et al."采用弹性反冲分析法同时测量薄膜中氢和氘的深度分布".核技术 .10(1997). |
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