Knowledge Management System Of Shanghai Institute of Applied Physics, CAS
超薄窗Si(Li)探测器在实验中的应用 | |
刘惠珍; 朱福英; 朱德彰; 曹德新; 沈浩元; 浦世节 | |
1994-04-10 | |
Source Publication | 核技术
![]() |
Issue | 04 |
Abstract | 用超薄窗Si(Li)探测器测量低能X射线;将传统的PIXE谱测量范围推广到如Si、Al、Na等低原子序数元素。还对超薄窗Si(Li)探测器的具体应用作了描述。 |
Indexed By | CNKI |
Language | 中文 |
Funding Project | 原子核所项目组 |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11143 |
Collection | 中科院上海原子核所2003年前 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 刘惠珍,朱福英,朱德彰,等. 超薄窗Si(Li)探测器在实验中的应用[J]. 核技术,1994(04). |
APA | 刘惠珍,朱福英,朱德彰,曹德新,沈浩元,&浦世节.(1994).超薄窗Si(Li)探测器在实验中的应用.核技术(04). |
MLA | 刘惠珍,et al."超薄窗Si(Li)探测器在实验中的应用".核技术 .04(1994). |
Files in This Item: | Download All | |||||
File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
超薄窗Si(Li)探测器在实验中的应用.(133KB) | 开放获取 | License | View Download |
Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Edit Comment