CAS OpenIR  > 中科院上海原子核所2003年前
带电粒子瞬发核反应分析
梁代骅; 沈关涛; 李德义; 吴俊恒
1982-05-01
Source Publication核技术
Issue04
Abstract带电粒子瞬发核反应分析是最近十多年来发展起来的一种新的离子束分析技术;从1973年起至今已召开了5次国际会议;并发表了大量文章。 带电粒子瞬发核反应分析;是利用带电粒子束照射待测样品;使样品中待测元素发生核反应;然后测量伴随着核反应而瞬时放出的γ-射线或带电粒子;这样可以求得样品的组分、含量和深度剖面分布。它的优点是选择性强(干扰小)、灵敏度高、精确度高、非破坏性及快速。此外还可以对样品表面进行微束(约微米数量级)扫描它适于重基体中轻杂质的分析。带电粒子瞬发核反应分析的灵敏度一般为10~(14)~10~(15)at/cm~2;个别达到10~(12)at/cm~2。分析深度一般为几微米;个别达到几十微米。深度分辨率一般为0.01~0.1μm;有时达20A左右。
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project原子核所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11226
Collection中科院上海原子核所2003年前
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GB/T 7714
梁代骅,沈关涛,李德义,等. 带电粒子瞬发核反应分析[J]. 核技术,1982(04).
APA 梁代骅,沈关涛,李德义,&吴俊恒.(1982).带电粒子瞬发核反应分析.核技术(04).
MLA 梁代骅,et al."带电粒子瞬发核反应分析".核技术 .04(1982).
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