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分析磁铁光学特性的某些问题 | |
赖伟全; 徐森林 | |
1982-04-01 | |
Source Publication | 核技术
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Issue | 03 |
Abstract | <正> 一、引言 用成像光学方法来研究分析磁铁的光学特性;已由一些人作了描述。我们认为关于对称双聚焦状态的光学特性和能量分辨率与接收度的关系等问题;还有必要进行深入的考察。本文首先用成像光学方法对上述问题作数学解析式的描述;然后用一阶束流传输理论作束流光学特性的数值计算;给出可参考的特征曲线。 |
Indexed By | CNKI |
Language | 中文 |
Funding Project | 原子核所项目组 |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11374 |
Collection | 中科院上海原子核所2003年前 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 赖伟全,徐森林. 分析磁铁光学特性的某些问题[J]. 核技术,1982(03). |
APA | 赖伟全,&徐森林.(1982).分析磁铁光学特性的某些问题.核技术(03). |
MLA | 赖伟全,et al."分析磁铁光学特性的某些问题".核技术 .03(1982). |
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