光学元件表面粗糙度对第三代同步辐射光源空间相干性的影响

CAS OpenIR > 中科院上海原子核所2003年前

	光学元件表面粗糙度对第三代同步辐射光源空间相干性的影响
	顾冬红; 刘恺; 陈启婴; 许慧君; 唐晓东; 徐磊; 干福熹; 李民乾; 沈淑引
	2000-04-05
Source Publication	光学学报
Issue	04
Abstract	以单丝的同轴全息干涉花样为判别标准 ;通过计算机数值模拟 ;研究了 Be窗的表面粗糙度对硬 X射线相干特性的影响。提出了 X射线在粗糙表面反射的一个简单模型 ;以此为基础模拟研究了反射镜表面粗糙度对硬 X射线及软 X射线空间相干特性的影响 ;模拟结果与实验结果相符。
Indexed By	CNKI
Language	中文
Funding Project	原子核所项目组
Document Type	期刊论文
Identifier	http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11479
Collection	中科院上海原子核所2003年前
Recommended Citation GB/T 7714	顾冬红,刘恺,陈启婴,等. 光学元件表面粗糙度对第三代同步辐射光源空间相干性的影响[J]. 光学学报,2000(04).
APA	顾冬红.,刘恺.,陈启婴.,许慧君.,唐晓东.,...&沈淑引.(2000).光学元件表面粗糙度对第三代同步辐射光源空间相干性的影响.光学学报(04).
MLA	顾冬红,et al."光学元件表面粗糙度对第三代同步辐射光源空间相干性的影响".光学学报 .04(2000).

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Format:	Unknown

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