Knowledge Management System Of Shanghai Institute of Applied Physics, CAS
基本参数法X射线荧光测厚 | |
乐安全; 朱节清; 徐君权 | |
1982-05-01 | |
Source Publication | 核技术
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Issue | 04 |
Abstract | 本文简要介绍了用放射性核素的非单能初级辐射;非破坏地绝对测量极薄层厚度的X射线荧光测厚技术。测量薄层厚度的精确度好于1.1%。与空气等效法α测厚仪的测量结果对照;相对偏差小于3.8%。 |
Indexed By | CNKI |
Language | 中文 |
Funding Project | 原子核所项目组 |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11593 |
Collection | 中科院上海原子核所2003年前 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 乐安全,朱节清,徐君权. 基本参数法X射线荧光测厚[J]. 核技术,1982(04). |
APA | 乐安全,朱节清,&徐君权.(1982).基本参数法X射线荧光测厚.核技术(04). |
MLA | 乐安全,et al."基本参数法X射线荧光测厚".核技术 .04(1982). |
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基本参数法X射线荧光测厚.caj(220KB) | 开放获取 | License | View Download |
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