CAS OpenIR  > 中科院上海原子核所2003年前
基本参数法在能量色散X射线荧光分析金属样品中的应用
张元勋
1988-06-29
Source Publication分析测试通报
Issue03
Abstract<正> 在X射线荧光分析中;基本参数法是校正元素间吸收增强效应的数学方法之一。我们使用带有不锈钢窗的~(241)Am59.6keVγ射线作为激发源;用Si(Li)半导体探测器和多道脉冲幅度分析器作为实验手段。采用无标样法;即绝对测量法;因而具有更大的广泛性和实用性。实验中;我们除了考虑元素间的二次、三次荧光吸收增强作用外;对样品中元素
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project原子核所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11594
Collection中科院上海原子核所2003年前
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GB/T 7714
张元勋. 基本参数法在能量色散X射线荧光分析金属样品中的应用[J]. 分析测试通报,1988(03).
APA 张元勋.(1988).基本参数法在能量色散X射线荧光分析金属样品中的应用.分析测试通报(03).
MLA 张元勋."基本参数法在能量色散X射线荧光分析金属样品中的应用".分析测试通报 .03(1988).
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