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能量色散X射线分析中基本参数法的应用 | |
陈志祥 | |
1982-01-31 | |
Source Publication | 核技术
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Issue | 01 |
Abstract | 本文叙述了放射性同位素源激发能量色散X射线分析中基本参数法的原理、实验装置和计算机程序。在实验数据计算中;考虑了二次荧光的贡献;忽略了三次荧光强度。在本实验中;分析了砷化镓、碲化镉和不锈钢样品;结果与已知值进行了比较;准确度和精密度约在1%左右;样品分析时不需要标准;方法是非破坏的、可靠和有效的。 |
Indexed By | CNKI |
Language | 中文 |
Funding Project | 原子核所项目组 |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/11844 |
Collection | 中科院上海原子核所2003年前 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 陈志祥. 能量色散X射线分析中基本参数法的应用[J]. 核技术,1982(01). |
APA | 陈志祥.(1982).能量色散X射线分析中基本参数法的应用.核技术(01). |
MLA | 陈志祥."能量色散X射线分析中基本参数法的应用".核技术 .01(1982). |
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能量色散X射线分析中基本参数法的应用.c(204KB) | 开放获取 | License | View Download |
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