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同位素激发X荧光分析测定铜保持器的磨损 | |
鲍锦荣; 荣廷文; 林森浩; 章家鼎; 华芝芬; 邱瑞球; 高培明; 韩俊龙 | |
1982 | |
Source Publication | 核技术
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Issue | 04 |
Abstract | <正> 现我国纱厂用的纱锭轴承中的金属铜保持器有两种不同的生产工艺;为了解不同工艺生产的铜保持器在使用过程中的耐磨性能;采用同位素源激发X荧光分析法测定磨损后的轴承套内润滑油中铜的含量;来推断其耐磨性能。 |
Indexed By | CNKI |
Language | 中文 |
Funding Project | 原子核所项目组 |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12061 |
Collection | 中科院上海原子核所2003年前 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 鲍锦荣,荣廷文,林森浩,等. 同位素激发X荧光分析测定铜保持器的磨损[J]. 核技术,1982(04). |
APA | 鲍锦荣.,荣廷文.,林森浩.,章家鼎.,华芝芬.,...&韩俊龙.(1982).同位素激发X荧光分析测定铜保持器的磨损.核技术(04). |
MLA | 鲍锦荣,et al."同位素激发X荧光分析测定铜保持器的磨损".核技术 .04(1982). |
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同位素激发X荧光分析测定铜保持器的磨损.(87KB) | 开放获取 | License | View Download |
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