Knowledge Management System Of Shanghai Institute of Applied Physics, CAS
| 用电子湮灭方法测位错密度 | |
| 王振杰; 彭郁卿; 袁鹤令; 王景成 | |
| 1981 | |
| Source Publication | 上海钢研
 |
| Issue | 01 |
| Abstract | <正> 前言 晶体缺陷的研究目前已经突破范性形变这一传统领域;渗透到金属、固体电磁性能方面;但它的测量方法始终在探讨;主要的常用方法有金相显微镜及X射线法。近年来采用电子显微镜;不仅可测位错密度;且能直接观察缺陷的形态。但存在的共同问题是这些方法均受到试样制备的限制;而且试样表面位错密度与体内有差异;尤其是当缺 |
| Indexed By | CNKI |
| Language | 中文 |
| Funding Project | 原子核所项目组 |
| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12299 |
| Collection | 中科院上海原子核所2003年前 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 王振杰,彭郁卿,袁鹤令,等. 用电子湮灭方法测位错密度[J]. 上海钢研,1981(01). |
| APA | 王振杰,彭郁卿,袁鹤令,&王景成.(1981).用电子湮灭方法测位错密度.上海钢研(01). |
| MLA | 王振杰,et al."用电子湮灭方法测位错密度".上海钢研 .01(1981). |
| Files in This Item: | ||||||
| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| 用电子湮灭方法测位错密度.caj（118KB） | 开放获取 | License | View Application Full Text | |||
Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Edit Comment