CAS OpenIR  > 中科院上海原子核所2003年前
用计算机程序来计算复合镀层厚度
朱节清; 乐安全; 谷英梅; 韩发生
1986
Source Publication核技术
Issue01
Abstract<正> 自从1974年西德H.Ebel等人首先使用基本参数法X射线荧光分析技术绝对测量薄层厚度以来;已经有许多人在改进这项技术;并取得了进展。使用这种方法可以不需要任何标准样品;非破坏性地绝对测量几乎任意材料组合的镀层厚度。但是这些方法都局限在单镀层;而在生产中常见的是复合镀层。如铜基上镀镍再镀金;铁基上镀铜再镀镍;黄铜上镀银再镀金等。对于复合镀层;美国R.J.Russell在1977年研究了多层之间二次荧光对测量结果的影响。
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project原子核所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12317
Collection中科院上海原子核所2003年前
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GB/T 7714
朱节清,乐安全,谷英梅,等. 用计算机程序来计算复合镀层厚度[J]. 核技术,1986(01).
APA 朱节清,乐安全,谷英梅,&韩发生.(1986).用计算机程序来计算复合镀层厚度.核技术(01).
MLA 朱节清,et al."用计算机程序来计算复合镀层厚度".核技术 .01(1986).
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