CAS OpenIR  > 中科院上海原子核所2003年前
在能量色散X射线荧光分析中用基本参数法计算合金成份
张元勋; 陈志祥
1983
Source Publication分析试验室
Issue03
Abstract<正> 引言在X射线荧光分析中;基本参数法是校正元素间吸收增强效应的一种数学方法。它是根据样品受激发射荧光X射线的原理在测定了样品中各元素的特征X射线强度以后;利用已知的物理参数;如质量吸收系数;荧光产额;X射线特征谱线的相对强度;入射辐射能谱;几何因子;探测效率等;在给定的初值条件下通过理论计算;用迭代逐步逼近法直接求得样品中各元素的含量。
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project原子核所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12396
Collection中科院上海原子核所2003年前
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GB/T 7714
张元勋,陈志祥. 在能量色散X射线荧光分析中用基本参数法计算合金成份[J]. 分析试验室,1983(03).
APA 张元勋,&陈志祥.(1983).在能量色散X射线荧光分析中用基本参数法计算合金成份.分析试验室(03).
MLA 张元勋,et al."在能量色散X射线荧光分析中用基本参数法计算合金成份".分析试验室 .03(1983).
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