CAS OpenIR  > 中科院上海原子核所2003年前
质子激发X射线分析测定环境样品中的痕量元素
李民乾; 盛康龙; 秦俊法; 陈志祥; 金柏康; 荣廷文; 汪学朋
1979
Source Publication科学通报
Issue01
Abstract<正> 质子激发X射线分析(PIXE)是七十年代发展起来的新的元素分析工具。它的特点是以几兆电子伏质子束激发X射线;并以Si(Li)半导体探测器进行X射线能谱测量。 由于质子激发X射线的截面较高;而其韧致辐射又很低;故具有较高的灵敏度;Si(Li)探测器有较好的能量分辨率和较高的探测效率;因此PIXE可同时进行多元素的分析。所以;PIXE能发展为一种快速、灵敏和多元素的分析方法。
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project原子核所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12428
Collection中科院上海原子核所2003年前
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GB/T 7714
李民乾,盛康龙,秦俊法,等. 质子激发X射线分析测定环境样品中的痕量元素[J]. 科学通报,1979(01).
APA 李民乾.,盛康龙.,秦俊法.,陈志祥.,金柏康.,...&汪学朋.(1979).质子激发X射线分析测定环境样品中的痕量元素.科学通报(01).
MLA 李民乾,et al."质子激发X射线分析测定环境样品中的痕量元素".科学通报 .01(1979).
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