Knowledge Management System Of Shanghai Institute of Applied Physics, CAS
| 质子激发X荧光分析法测定比对粉末发样中的微量元素 | |
| 张元勋; 汪学朋; 谈明光 | |
| 1988 | |
| Source Publication | 微量元素
 |
| Issue | 01 |
| Abstract | <正> 质子激发 X 射线荧光分析法(PIXE)是近年来迅速发展的核分析技术;由于该方法取样量少、快速、准确、灵敏度高、具有多元素同时分析优点;特别适合于生物样品中微量元素的分析研究。本工作介绍用 PIXE 法测定比对粉末发样中 K、Ca、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn 和 Pb 九种微量元素含量的实验技术。 |
| Indexed By | CNKI |
| Language | 中文 |
| Funding Project | 原子核所项目组 |
| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12429 |
| Collection | 中科院上海原子核所2003年前 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 张元勋,汪学朋,谈明光. 质子激发X荧光分析法测定比对粉末发样中的微量元素[J]. 微量元素,1988(01). |
| APA | 张元勋,汪学朋,&谈明光.(1988).质子激发X荧光分析法测定比对粉末发样中的微量元素.微量元素(01). |
| MLA | 张元勋,et al."质子激发X荧光分析法测定比对粉末发样中的微量元素".微量元素 .01(1988). |
| Files in This Item: | ||||||
| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| 质子激发X荧光分析法测定比对粉末发样中的（133KB） | 开放获取 | License | View Application Full Text | |||
Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Edit Comment