CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2019年
利用同步辐射XRD研究BiFeO_3外延多铁薄膜的微结构
李晓龙; 王灿; 顾月良; 何庆; 吕惠宾; 金奎娟; 周兴泰; 徐洪杰
2011
Source Publication中国科学:物理学 力学 天文学
ISSN1674-7275
Issue1Pages:12-16
Abstract使用脉冲激光沉积在SrTiO3衬底上生长了不同厚度的BiFeO3(BFO)薄膜,X射线衍射分析表明薄膜是BFO外延薄膜.X射线反射率测量发现BFO薄膜密度随着厚度的增加而增加,同时薄膜表面存在厚度为数纳米的非设计覆盖层.随着厚度的增加,BFO薄膜由完全应变过渡到应变部分弛豫状态,同时BFO从四方相转变为单斜相.
Keyword铁电薄膜 微结构 同步辐射衍射
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project应物所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12596
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2019年
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GB/T 7714
李晓龙,王灿,顾月良,等. 利用同步辐射XRD研究BiFeO_3外延多铁薄膜的微结构[J]. 中国科学:物理学 力学 天文学,2011(1):12-16.
APA 李晓龙.,王灿.,顾月良.,何庆.,吕惠宾.,...&徐洪杰.(2011).利用同步辐射XRD研究BiFeO_3外延多铁薄膜的微结构.中国科学:物理学 力学 天文学(1),12-16.
MLA 李晓龙,et al."利用同步辐射XRD研究BiFeO_3外延多铁薄膜的微结构".中国科学:物理学 力学 天文学 .1(2011):12-16.
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