CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2019年
同步辐射双晶单色器平行度测量方法研究
刘石磊; 王丽; 徐中民; 王纳秀
2011
Source Publication核技术
ISSN0253-3219
Issue6Pages:411-414
Abstract针对上海光源(SSRF)光束线建设和晶体单色器须进行双晶晶体表面(晶面)平行度离线测量的需求,探讨了利用十字位相板改进后光笔干涉仪法测量双晶晶体表面平行度的可行性,并开展原理性实验。该方法克服了自准直仪法不能测量晶面绝对平行度的缺陷,并实现了同时测量双晶单色器的二维平行度。在本实验装置下,投角和滚角的理论测量精度可达0.89″和1.79″,为调节双晶单色器晶面平行度提供一种新的测量方法。
Keyword双晶单色器 平行度 光笔干涉仪
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project应物所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12629
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2019年
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GB/T 7714
刘石磊,王丽,徐中民,等. 同步辐射双晶单色器平行度测量方法研究[J]. 核技术,2011(6):411-414.
APA 刘石磊,王丽,徐中民,&王纳秀.(2011).同步辐射双晶单色器平行度测量方法研究.核技术(6),411-414.
MLA 刘石磊,et al."同步辐射双晶单色器平行度测量方法研究".核技术 .6(2011):411-414.
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