Knowledge Management System Of Shanghai Institute of Applied Physics, CAS
~3He正比计数器探测效率模拟及灵敏度刻度 | |
刘应都; 张国强; 王宏伟; 田文栋 | |
2012 | |
Source Publication | 核技术
![]() |
ISSN | 0253-3219 |
Issue | 3Pages:175-178 |
Abstract | 利用Monte Carlo程序研究了3He正比计数器慢化体厚度与探测效率的关系,单能中子及Hess谱中子模拟给出5 cm的聚乙烯慢化体优化厚度。利用天然中子本底对探测器装置进行测试,并对探测器灵敏度进行了刻度。 |
Indexed By | CNKI |
Language | 中文 |
Funding Project | 应物所项目组 |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12692 |
Collection | 中科院上海应用物理研究所2011-2020年 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 刘应都,张国强,王宏伟,等. ~3He正比计数器探测效率模拟及灵敏度刻度[J]. 核技术,2012(3):175-178. |
APA | 刘应都,张国强,王宏伟,&田文栋.(2012).~3He正比计数器探测效率模拟及灵敏度刻度.核技术(3),175-178. |
MLA | 刘应都,et al."~3He正比计数器探测效率模拟及灵敏度刻度".核技术 .3(2012):175-178. |
Files in This Item: | Download All | |||||
File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
_3He正比计数器探测效率模拟及灵敏度刻(1551KB) | 开放获取 | License | View Download |
Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Edit Comment