CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2019年
Laue弯晶聚焦特性的光线追迹研究
陈灿; 佟亚军; 谢红兰; 肖体乔
2012
Source Publication物理学报
ISSN1000-3290
Issue10Pages:156-164
Abstract由于可有效降低高热负载的影响,Laue弯晶是插入件辐射高通量密度硬X射线(30 keV以上)聚焦、准直和单色化的最有效的光学元件.研究其聚焦光学特性,对发展高性能、高稳定的Laue弯晶单色器具有重要意义.采用自行发展的光线追迹软件较为系统地研究了Laue弯晶的聚焦特性,分析了入射光性质及弯晶参数对聚焦光斑、焦距、发散度等主要光学参数的影响.结果表明,衍射能量越高,聚焦光斑越小,并趋于稳定值;弯曲半径越小,聚焦光斑越小,并在其达到一阈值时得到聚焦光斑的极小值,之后随着弯曲半径的变小,由于像差等因素的影响,聚焦光斑反而变大;晶体越厚,聚焦光斑越大,呈线性正比关系.对于衍射光发散度,其随着衍射能量的增大而变小,并趋于稳定值;其与晶体曲率呈线性正比关系.同时通过研究得到弯晶各参数的合理选择范围.
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project应物所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12709
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2019年
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GB/T 7714
陈灿,佟亚军,谢红兰,等. Laue弯晶聚焦特性的光线追迹研究[J]. 物理学报,2012(10):156-164.
APA 陈灿,佟亚军,谢红兰,&肖体乔.(2012).Laue弯晶聚焦特性的光线追迹研究.物理学报(10),156-164.
MLA 陈灿,et al."Laue弯晶聚焦特性的光线追迹研究".物理学报 .10(2012):156-164.
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