CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2019年
SR-XRD和EXAFS研究Mn掺杂ZnO薄膜的微观结构
张斌; 李敏; 王建中; 施立群; 承焕生; 杨铁莹; 文闻; 胡凤春
2012
Source Publication核技术
ISSN0253-3219
Issue5Pages:321-325
Abstract用射频磁控溅射技术在蓝宝石衬底上制备了一组不同衬底温度的Mn掺杂ZnO薄膜。质子激发X射线荧光(PIXE)测量表明,薄膜中仅有含量为5 at.%的Mn,未见其它磁性杂质元素(如Fe、Co、Ni等)。同步辐射X射线衍射(SR-XRD)表明,这些Mn掺杂ZnO薄膜具有纤锌矿ZnO结构。SR-XRD和扩展X射线吸收精细结构谱(EXAFS)分析显示,薄膜中未发现Mn团簇或MnO、MnO2、Mn2O3、Mn3O4等二次相,Mn原子是通过替代Zn原子而进入了ZnO晶格。
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project应物所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/12715
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2019年
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GB/T 7714
张斌,李敏,王建中,等. SR-XRD和EXAFS研究Mn掺杂ZnO薄膜的微观结构[J]. 核技术,2012(5):321-325.
APA 张斌.,李敏.,王建中.,施立群.,承焕生.,...&胡凤春.(2012).SR-XRD和EXAFS研究Mn掺杂ZnO薄膜的微观结构.核技术(5),321-325.
MLA 张斌,et al."SR-XRD和EXAFS研究Mn掺杂ZnO薄膜的微观结构".核技术 .5(2012):321-325.
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