CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2020年
上海光源BL14W1线站高分辨XAFS方法的实现及其应用研究
Alternative TitleHigh-resolution XAFS method at SSRF BL14W1 Beamline and its application
高星
Subtype博士
Thesis Advisor黄宇营
2013-10
Degree Discipline核技术及应用
Keyword高分辨 吸收谱 发射谱 Eu(ⅲ) 相互作用
Abstract自同步辐射光源发现以来,同步辐射实验方法已成为科学研究中一种越来越重要的实验技术。伴随着同步辐射技术的发展,X射线吸收精细结构谱(XAFS)方法也得到了快速的发展,新的实验技术如快速扫描XAFS、掠入射XAFS等相继出现。发展并利用新的实验技术,已经成为XAFS领域的重要方向之一。 上海光源BL14W1线站是一条硬X射线通用谱学线站,主要进行X射线吸收精细结构谱的研究。现在已有多种吸收谱的测试手段如透射法,lytle荧光法、32元固探荧光法、掠入射XAFS方法,并可以在高低温等环境下进行XAFS谱的测试。高分辨XAFS方法的发展不仅可以拓展线站的实验技术,还可以解决一些常规XAFS方法无法解决的问题。 高分辨XAFS谱仪是利用高能量分辨的分析晶体的谱仪,使样品、分析晶体、探测器三者采取罗兰圆几何结构。可以研究电子跃迁发出的更精细的光谱,一般主要是观测元素的Kβ1,3及其附近的各种卫星谱线,这些谱线往往需要几个eV或更高能量分辨的探测方法才能实现,常规探测方法的能量分辨率一般不好于120eV,难以或无法区分Kβ1,3及其附近的卫星谱线,而正是Kβ1,3及其附近的卫星谱线包含了重要的结构信息,如电子自旋与轨道耦合等,通过研究这种高分辨的发射谱及吸收谱可以获得常规XAFS吸收谱得不到的结构和信息。
Pages95
Language中文
Document Type学位论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/13352
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2020年
Recommended Citation
GB/T 7714
高星. 上海光源BL14W1线站高分辨XAFS方法的实现及其应用研究[D],2013.
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