CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2019年
利用AFM探针施加的正偏压提高单个DNA分子的分离效率
张琛; 张福春; 杨海军; 申月; 张益; 胡钧
2013-04-15
Source Publication电子显微学报
Issue2Pages:139-143
Abstract基于原子力显微镜(AFM)的分子操纵技术能通过AFM针尖将云母表面的单个DNA分子分离(拾取),通过单分子PCR和Sanger法测序,可以得到任何感兴趣的单个DNA片段的序列。然而在实际操作中,由于针尖-DNA吸附力不足以克服云母表面-DNA吸附力,衬底表面的DNA分子被分离的成功率往往较低。本文改进了原子力显微镜(AFM)针尖对云母表面单个DNA分子的分离(拾取)方法,通过对导电的AFM针尖施加正偏压,使针尖与负电荷的DNA分子形成较强的静电吸引力。结果表明,在针尖施加偏压后,表面的DNA分子能被高效的分离;而在未施加偏压的情况下,表面的DNA分子容易被针尖"搓揉"成球状的颗粒,但比较难分离...
Keyword原子力显微镜 Dna分离 正偏压 静电吸引力
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project应物所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/13510
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2019年
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GB/T 7714
张琛,张福春,杨海军,等. 利用AFM探针施加的正偏压提高单个DNA分子的分离效率[J]. 电子显微学报,2013(2):139-143.
APA 张琛,张福春,杨海军,申月,张益,&胡钧.(2013).利用AFM探针施加的正偏压提高单个DNA分子的分离效率.电子显微学报(2),139-143.
MLA 张琛,et al."利用AFM探针施加的正偏压提高单个DNA分子的分离效率".电子显微学报 .2(2013):139-143.
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