DNA自组装技术及其在电离辐射检测中的应用

CAS OpenIR > 中科院上海应用物理研究所2011-2020年

	DNA自组装技术及其在电离辐射检测中的应用
	张宏陆; 李凡; 柳华杰; 晁洁
	2014
Source Publication	辐射研究与辐射工艺学报
Issue	3 Pages:42075
Abstract	电离辐射能够造成DNA分子的损伤(如改变碱基、链断裂和分子交联等)、抑制DNA合成和增强DNA分解等,进而会影响DNA自组装技术构建的纳米结构构型的变化,利用这一性质可用于电离辐射的检测。本文主要介绍了DNA自组装技术在结构和动态两方面的最新进展,并对DNA自组装技术在电离辐射检测中的应用,尤其是DNA拼块自组装纳米结构用于α粒子和β粒子辐照的高灵敏检测器等领域的最新进展进行了综述。
Keyword	辐射物理与技术 Dna自组装 Dna纳米技术电离辐射辐射检测
Indexed By	CNKI
Language	中文
Document Type	期刊论文
Identifier	http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/14583
Collection	中科院上海应用物理研究所2011-2020年
Recommended Citation GB/T 7714	张宏陆,李凡,柳华杰,等. DNA自组装技术及其在电离辐射检测中的应用[J]. 辐射研究与辐射工艺学报,2014(3):42075.
APA	张宏陆,李凡,柳华杰,&晁洁.(2014).DNA自组装技术及其在电离辐射检测中的应用.辐射研究与辐射工艺学报(3),42075.
MLA	张宏陆,et al."DNA自组装技术及其在电离辐射检测中的应用".辐射研究与辐射工艺学报 .3(2014):42075.

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