CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2019年
平面型碲锌镉(CZT)室温探测器的噪声和性能
徐慧超; 龚培荣
2014
Source Publication核电子学与探测技术
Issue6Pages:784-787
AbstractCdZnTe(CZT)探测器是近年来迅速发展的新型半导体探测器,具有体积小、分辨率高、可在室温下工作等优点。论文通过分析探测器的噪声组成,并经过实验数据分析,证明了影响探测器性能的主要因素是探测器晶体内电荷收集不完全,并为探测仪器设计时的成形时间选择提供了参考。
KeywordCdznte(Czt)探测器 噪声 能谱分析
Indexed ByCNKI
Language中文
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/14660
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2019年
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GB/T 7714
徐慧超,龚培荣. 平面型碲锌镉(CZT)室温探测器的噪声和性能[J]. 核电子学与探测技术,2014(6):784-787.
APA 徐慧超,&龚培荣.(2014).平面型碲锌镉(CZT)室温探测器的噪声和性能.核电子学与探测技术(6),784-787.
MLA 徐慧超,et al."平面型碲锌镉(CZT)室温探测器的噪声和性能".核电子学与探测技术 .6(2014):784-787.
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