CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2019年
硬X射线微米探针高精度样品定位系统
张继超; 梁东旭; 何燕; 李爱国; 余笑寒
2014
Source Publication光谱学与光谱分析
Issue2Pages:557-561
Abstract介绍了上海光源硬X射线微聚焦光束线站(BL15U1)的高精度样品定位系统。该系统由离线样品显微镜系统、在线样品实验系统和高精度定位样品架三部分组成。通过编译控制程序、样品架定位、坐标转换,将样品的在线X射线荧光成像实验和离线显微镜观察进行有效结合,首次在国内同步辐射装置上实现样品在微米范围内的快速离线定位。该系统帮助科研工作者在利用微束X射线研究物质微区特征时,快速准确地寻找微区研究对象。利用金网进行X射线荧光成像实验,对比离线高倍显微镜下金网各结点的坐标,对样品定位系统的精度进行验证。结果表明,该样品定位系统在X方向的平均误差为1.3μm,Z方向的平均误差为2.5μm。该系统不仅简便快速、准...
Keyword硬x射线微探针 高精度样品定位 坐标转换
Indexed ByCNKI
Language中文
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/14714
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2019年
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GB/T 7714
张继超,梁东旭,何燕,等. 硬X射线微米探针高精度样品定位系统[J]. 光谱学与光谱分析,2014(2):557-561.
APA 张继超,梁东旭,何燕,李爱国,&余笑寒.(2014).硬X射线微米探针高精度样品定位系统.光谱学与光谱分析(2),557-561.
MLA 张继超,et al."硬X射线微米探针高精度样品定位系统".光谱学与光谱分析 .2(2014):557-561.
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