CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2019年
正电子湮没技术作为材料无损检测的应用研究
曾辉; 陈志强; 姜静; 薛旭东; 梁建平; 刘向兵; 王荣山; 吴奕初
2014
Source Publication核技术
Issue6Pages:26-30
Abstract利用正电子湮没技术对材料内部原子尺度缺陷和损伤十分敏感的特点,设计了一种新的正电子无损检测(Non-destructive testing,NDT)装置,并使用单一样品分析了形变及辐照损伤材料的缺陷状态,证实该测量系统的可行性和可靠性。正电子NDT有望真正从原子尺度上给出材料损伤的判据,比常用的宏观或微观损伤判据更灵敏,可方便、快速及高灵敏探测两维缺陷分布。
Keyword正电子湮没 缺陷 无损检测(Non-destructive Testing Ndt)
Indexed ByCNKI
Language中文
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/14720
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2019年
Recommended Citation
GB/T 7714
曾辉,陈志强,姜静,等. 正电子湮没技术作为材料无损检测的应用研究[J]. 核技术,2014(6):26-30.
APA 曾辉.,陈志强.,姜静.,薛旭东.,梁建平.,...&吴奕初.(2014).正电子湮没技术作为材料无损检测的应用研究.核技术(6),26-30.
MLA 曾辉,et al."正电子湮没技术作为材料无损检测的应用研究".核技术 .6(2014):26-30.
Files in This Item: Download All
File Name/Size DocType Version Access License
正电子湮没技术作为材料无损检测的应用研究(551KB) 开放获取CC BY-NC-SAView Download
Related Services
Recommend this item
Bookmark
Usage statistics
Export to Endnote
Google Scholar
Similar articles in Google Scholar
[曾辉]'s Articles
[陈志强]'s Articles
[姜静]'s Articles
Baidu academic
Similar articles in Baidu academic
[曾辉]'s Articles
[陈志强]'s Articles
[姜静]'s Articles
Bing Scholar
Similar articles in Bing Scholar
[曾辉]'s Articles
[陈志强]'s Articles
[姜静]'s Articles
Terms of Use
No data!
Social Bookmark/Share
File name: 正电子湮没技术作为材料无损检测的应用研究.pdf
Format: Adobe PDF
All comments (0)
No comment.
 

Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.