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| 正电子湮没技术作为材料无损检测的应用研究 | |
| 曾辉; 陈志强; 姜静; 薛旭东; 梁建平; 刘向兵; 王荣山; 吴奕初 | |
| 2014 | |
| Source Publication | 核技术
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| Issue | 6Pages:26-30 |
| Abstract | 利用正电子湮没技术对材料内部原子尺度缺陷和损伤十分敏感的特点,设计了一种新的正电子无损检测(Non-destructive testing,NDT)装置,并使用单一样品分析了形变及辐照损伤材料的缺陷状态,证实该测量系统的可行性和可靠性。正电子NDT有望真正从原子尺度上给出材料损伤的判据,比常用的宏观或微观损伤判据更灵敏,可方便、快速及高灵敏探测两维缺陷分布。 |
| Keyword | 正电子湮没 缺陷 无损检测(Non-destructive Testing Ndt) |
| Indexed By | CNKI |
| Language | 中文 |
| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/14720 |
| Collection | 中科院上海应用物理研究所2011-2020年 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 曾辉,陈志强,姜静,等. 正电子湮没技术作为材料无损检测的应用研究[J]. 核技术,2014(6):26-30. |
| APA | 曾辉.,陈志强.,姜静.,薛旭东.,梁建平.,...&吴奕初.(2014).正电子湮没技术作为材料无损检测的应用研究.核技术(6),26-30. |
| MLA | 曾辉,et al."正电子湮没技术作为材料无损检测的应用研究".核技术 .6(2014):26-30. |
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| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| 正电子湮没技术作为材料无损检测的应用研究（551KB） | 开放获取 | CC BY-NC-SA | View Application Full Text | |||
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