CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2019年
小角X光散射绝对强度的两种测试方法
柳义1; 王连文1
2015
Source Publication光散射学报
Issue1Pages:59-63
Subtype期刊文献
Abstract用衰减法和水标样法测量多孔SiO2的小角X光散射绝对强度,并以此计算样品中的空隙体积分数关系。将所得结果与用氮气吸附法得到的结果进行比较,表明了用标样法得到的结果更加接近于氮气吸附法测量得到的结果,因而间接地表明了标样法要比衰减法测得的小角散射绝对强度更加可靠。文章进一步讨论了这两种方法的特点以及误差产生的原因。该实验结果和讨论将有助于进一步加深对这两种绝对强度测试方法的理解,并在实验中选择合适的测量方法。
Keyword小角x光散射 绝对强度 衰减法 标样法
Indexed By其他
Language中文
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/24356
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2019年
Affiliation1.中国科学院上海应用物理研究所
2.兰州大学物理科学与技术学院
Recommended Citation
GB/T 7714
柳义,王连文. 小角X光散射绝对强度的两种测试方法[J]. 光散射学报,2015(1):59-63.
APA 柳义,&王连文.(2015).小角X光散射绝对强度的两种测试方法.光散射学报(1),59-63.
MLA 柳义,et al."小角X光散射绝对强度的两种测试方法".光散射学报 .1(2015):59-63.
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