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外加电场测试台架及薄膜测试平台 | |
李晓龙; 顾月良; 何庆; 黎忠; 周兴泰; 徐洪杰 | |
2011-12-28 | |
Rights Holder | 中国科学院上海应用物理研究所 |
Country | 中华人民共和国 |
Subtype | 实用新型 |
Abstract | 本实用新型公开了一种外加电场测试台架及薄膜测试平台,包括一底座,所述底座设置在一旋转轴上方,底座上方中央设置一样品台;一对“T”形支架,设置在所述底座两端的端面上;一对能够在多个维度上进行位置调节的探针台,分别设置在所述“T”形支架上;一对探针夹具,包括探针插口,分别设置在所述探针台上;以及一对与所述探针夹具绝缘的金属探针,通过所述探针插口固定设置在所述探针夹具上。本实用新型结构合理,操作方便,可以在进行衍射研究的同时对样品进行转动调整,大大提高了薄膜材料的基础物质属性研究实验效率。 |
Classification | G01N23/20;G01R31/00 |
Patent Number | CN202471623 |
Language | 中文 |
Application Number | CN201120559975 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/25270 |
Collection | 中科院上海应用物理研究所2011-2020年 |
Affiliation | 中国科学院上海应用物理研究所 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 李晓龙,顾月良,何庆,等. 外加电场测试台架及薄膜测试平台. CN202471623[P]. 2011-12-28. |
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CN201120559975.pdf(299KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | View Download |
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