外加电场测试台架及薄膜测试平台
李晓龙; 顾月良; 何庆; 黎忠; 周兴泰; 徐洪杰
2011-12-28
专利权人中国科学院上海应用物理研究所
授权国家中华人民共和国
专利类型实用新型
摘要本实用新型公开了一种外加电场测试台架及薄膜测试平台,包括一底座,所述底座设置在一旋转轴上方,底座上方中央设置一样品台;一对“T”形支架,设置在所述底座两端的端面上;一对能够在多个维度上进行位置调节的探针台,分别设置在所述“T”形支架上;一对探针夹具,包括探针插口,分别设置在所述探针台上;以及一对与所述探针夹具绝缘的金属探针,通过所述探针插口固定设置在所述探针夹具上。本实用新型结构合理,操作方便,可以在进行衍射研究的同时对样品进行转动调整,大大提高了薄膜材料的基础物质属性研究实验效率。
分类号G01N23/20;G01R31/00
专利号CN202471623
语种中文
申请号CN201120559975
文献类型专利
条目标识符http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/25270
专题中科院上海应用物理研究所2011-2018年
作者单位中国科学院上海应用物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
李晓龙,顾月良,何庆,等. 外加电场测试台架及薄膜测试平台. CN202471623[P]. 2011-12-28.
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