一种遮挡杂散X光和直通X光的装置
杨科; 洪执华; 闫帅; 李爱国; 余笑寒
2012-02-22
专利权人中国科学院上海应用物理研究所
授权国家中华人民共和国
专利类型实用新型
摘要本实用新型公开了一种用于遮挡杂散X光和直通X光的装置,其包括:一第一钽片光阑和一沿着X光射线的传输方向设于所述第一钽片光阑下游的一第二钽片光阑,所述第一钽片光阑上设有一第一光阑孔,所述第二钽片光阑上设有一第二光阑孔,所述第一光阑孔与第二光阑孔对应设置,且第一光阑孔的直径小于第二光阑孔的直径;一铅块,其沿X光射线的传输方向设置于所述第二钽片光阑的下游。在本实用新型所述的装置中,钽片光阑用于遮挡杂散X光,并让主光束从光阑孔中穿过,照到样品上,从而消除了杂散X光对微区分析精度的影响,提高了实验的精确性与信噪比。铅块用于遮挡直通X光,从而保护探测器,延长了探测器的使用寿命。
分类号G01N23/207;G01N23/00
专利号CN202471626
语种中文
申请号CN201220058907
文献类型专利
条目标识符http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/25316
专题中科院上海应用物理研究所2011-2018年
作者单位中国科学院上海应用物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
杨科,洪执华,闫帅,等. 一种遮挡杂散X光和直通X光的装置. CN202471626[P]. 2012-02-22.
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