Knowledge Management System Of Shanghai Institute of Applied Physics, CAS
| 利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法 | |
| 樊春海; 李迪; 李昆 | |
| 2013-12-02 | |
| 专利权人 | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 授权国家 | 中华人民共和国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 本发明涉及利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法，包括如下步骤：利用纳米等离子体激元材料和核酸适体制备纳米等离子体激元探针；处理基底并利用该基底获取潜指纹；将所述纳米等离子体激元探针滴加于已获取潜指纹的基底上，使得所述潜指纹与所述纳米等离子体激元探针结合；利用暗场显微镜进行检测。本发明提供的指纹分析方法不仅能够对潜指纹进行成像，而且能够同时检测指纹中所携带的化学分析物。结果表明，本发明提供的是一种简单快速的方法，可以对指纹样品进行直接的无损分析。 |
| 分类号 | A61B5/117;G01N33/543 |
| 专利号 | CN103735271 |
| 语种 | 中文 |
| 申请号 | CN201310633293 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/25375 |
| 专题 | 中科院上海应用物理研究所2011-2018年 |
| 作者单位 | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 樊春海,李迪,李昆. 利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法. CN103735271[P]. 2013-12-02. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN201310633293.pdf（1152KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 下载 | ||
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