利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法
樊春海; 李迪; 李昆
2013-12-02
专利权人中国科学院上海应用物理研究所
授权国家中华人民共和国
专利类型发明
摘要本发明涉及利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法,包括如下步骤:利用纳米等离子体激元材料和核酸适体制备纳米等离子体激元探针;处理基底并利用该基底获取潜指纹;将所述纳米等离子体激元探针滴加于已获取潜指纹的基底上,使得所述潜指纹与所述纳米等离子体激元探针结合;利用暗场显微镜进行检测。本发明提供的指纹分析方法不仅能够对潜指纹进行成像,而且能够同时检测指纹中所携带的化学分析物。结果表明,本发明提供的是一种简单快速的方法,可以对指纹样品进行直接的无损分析。
分类号A61B5/117;G01N33/543
专利号CN103735271
语种中文
申请号CN201310633293
文献类型专利
条目标识符http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/25375
专题中科院上海应用物理研究所2011-2018年
作者单位中国科学院上海应用物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
樊春海,李迪,李昆. 利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法. CN103735271[P]. 2013-12-02.
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