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利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法 | |
樊春海; 李迪; 李昆 | |
2013-12-02 | |
Rights Holder | 中国科学院上海应用物理研究所 |
Country | 中华人民共和国 |
Subtype | 发明 |
Abstract | 本发明涉及利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法,包括如下步骤:利用纳米等离子体激元材料和核酸适体制备纳米等离子体激元探针;处理基底并利用该基底获取潜指纹;将所述纳米等离子体激元探针滴加于已获取潜指纹的基底上,使得所述潜指纹与所述纳米等离子体激元探针结合;利用暗场显微镜进行检测。本发明提供的指纹分析方法不仅能够对潜指纹进行成像,而且能够同时检测指纹中所携带的化学分析物。结果表明,本发明提供的是一种简单快速的方法,可以对指纹样品进行直接的无损分析。 |
Classification | A61B5/117;G01N33/543 |
Patent Number | CN103735271 |
Language | 中文 |
Application Number | CN201310633293 |
Document Type | 专利 |
Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/25375 |
Collection | 中科院上海应用物理研究所2011-2020年 |
Affiliation | 中国科学院上海应用物理研究所 |
Recommended Citation GB/T 7714 | 樊春海,李迪,李昆. 利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法. CN103735271[P]. 2013-12-02. |
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CN201310633293.pdf(1152KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | View Download |
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