Knowledge Management System Of Shanghai Institute of Applied Physics, CAS
| 利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法 | |
| 樊春海; 李迪; 李昆 | |
| 2013-12-02 | |
| Rights Holder | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| Country | 中华人民共和国 |
| Subtype | 发明 |
| Abstract | 本发明涉及利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法，包括如下步骤：利用纳米等离子体激元材料和核酸适体制备纳米等离子体激元探针；处理基底并利用该基底获取潜指纹；将所述纳米等离子体激元探针滴加于已获取潜指纹的基底上，使得所述潜指纹与所述纳米等离子体激元探针结合；利用暗场显微镜进行检测。本发明提供的指纹分析方法不仅能够对潜指纹进行成像，而且能够同时检测指纹中所携带的化学分析物。结果表明，本发明提供的是一种简单快速的方法，可以对指纹样品进行直接的无损分析。 |
| Classification | A61B5/117;G01N33/543 |
| Patent Number | CN103735271 |
| Language | 中文 |
| Application Number | CN201310633293 |
| Document Type | 专利 |
| Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/25375 |
| Collection | 中科院上海应用物理研究所2011-2019年 |
| Affiliation | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 樊春海,李迪,李昆. 利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法. CN103735271[P]. 2013-12-02. |
| Files in This Item: | ||||||
| File Name/Size | DocType | Version | Access | License | ||
| CN201310633293.pdf（1152KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | View Application Full Text | ||
Items in the repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Edit Comment