CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2019年
利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法
樊春海; 李迪; 李昆
2013-12-02
Rights Holder中国科学院上海应用物理研究所
Country中华人民共和国
Subtype发明
Abstract本发明涉及利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法,包括如下步骤:利用纳米等离子体激元材料和核酸适体制备纳米等离子体激元探针;处理基底并利用该基底获取潜指纹;将所述纳米等离子体激元探针滴加于已获取潜指纹的基底上,使得所述潜指纹与所述纳米等离子体激元探针结合;利用暗场显微镜进行检测。本发明提供的指纹分析方法不仅能够对潜指纹进行成像,而且能够同时检测指纹中所携带的化学分析物。结果表明,本发明提供的是一种简单快速的方法,可以对指纹样品进行直接的无损分析。
ClassificationA61B5/117;G01N33/543
Patent NumberCN103735271
Language中文
Application NumberCN201310633293
Document Type专利
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/25375
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2019年
Affiliation中国科学院上海应用物理研究所
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GB/T 7714
樊春海,李迪,李昆. 利用暗场显微镜同时进行指纹识别与分析物检测的方法. CN103735271[P]. 2013-12-02.
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