CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2019年
CR-39应用于中子探测的化学蚀刻条件优化研究
李洋1; 夏晓彬1; 曹振1; 王光宏1; 徐秀清1; 赵宇航1
2016
Source Publication核技术
ISSN0253-3219
Volumev.39Issue:6Pages:55-60
Subtype期刊文章
AbstractCR-39化学蚀刻的主要影响因素有蚀刻温度、蚀刻液种类和浓度以及蚀刻时间等。本研究选用英国Track Analysis Systems公司的CR-39,采用正交法对蚀刻温度、蚀刻液浓度、蚀刻时间进行试验研究,并与公司推荐化学蚀刻条件下的径迹图像、径迹密度进行对比,得出的优化蚀刻条件是:蚀刻温度为85°C、Na OH蚀刻液浓度为7 mol·L ~1,蚀刻时间为90 min。实验同时发现蚀刻温度是这三个因素中对化学蚀刻后净径迹密度影响最大的因素,而蚀刻时间的影响最小。该研究为CR-39应用于中子探测提供了更好的蚀刻条件,节省了实验时间。
KeywordCr-39 固体核径迹探测器 中子探测 化学蚀刻 正交法
Indexed By其他
Language中文
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/26169
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2019年
Affiliation1.中国科学院上海应用物理研究所嘉定园区
2.中国科学院大学
Recommended Citation
GB/T 7714
李洋,夏晓彬,曹振,等. CR-39应用于中子探测的化学蚀刻条件优化研究[J]. 核技术,2016,v.39(6):55-60.
APA 李洋,夏晓彬,曹振,王光宏,徐秀清,&赵宇航.(2016).CR-39应用于中子探测的化学蚀刻条件优化研究.核技术,v.39(6),55-60.
MLA 李洋,et al."CR-39应用于中子探测的化学蚀刻条件优化研究".核技术 v.39.6(2016):55-60.
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