CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2018年
X射线吸收精细结构在材料科学中的应用
王宇; 李炯; 张硕; 马静远; 汪丽华; 魏向军; 黄宇营; 姜政
2017
Source Publication中国材料进展
Issue3Pages:"188-194"
Subtype期刊论文
AbstractX射线吸收精细结构(XAFS)方法是随着同步辐射发展起来的独特技术,是研究材料局域原子结构和电子结构的一种重要方法。相比于X射线衍射,XAFS仅仅对于吸收原子周围局域结构敏感,样品可以是固体、液体甚至是气体。概述了XAFS的基本原理及几种常用的实验方法,结合上海光源的XAFS光束线站成果,介绍了近年来不同XAFS方法在催化、能源、纳米和半导体等材料科学热门研究领域的最新进展,展示了目前XAFS方法在材料科学研究中所发挥的重要作用。最后根据国内同步辐射光源和相关XAFS研究方法的进一步发展,展望了XAFS技术在材料科学研究中的应用前景。
Keyword材料科学 同步辐射 Xafs 时间分辨的xafs 原位xafs
Indexed By其他
Language中文
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/28203
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2018年
Affiliation中国科学院上海应用物理研究所上海光源
Recommended Citation
GB/T 7714
王宇,李炯,张硕,等. X射线吸收精细结构在材料科学中的应用[J]. 中国材料进展,2017(3):"188-194".
APA 王宇.,李炯.,张硕.,马静远.,汪丽华.,...&姜政.(2017).X射线吸收精细结构在材料科学中的应用.中国材料进展(3),"188-194".
MLA 王宇,et al."X射线吸收精细结构在材料科学中的应用".中国材料进展 .3(2017):"188-194".
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