CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2020年
电子束辐照聚醚醚酮薄膜的氧化效应
谭海容; 邢哲; 刘伟华; 沈蓉芳; 吴国忠
2019
Source Publication辐射研究与辐射工艺学报
Volume37Issue:02Pages:29-34
Subtype期刊论文
Abstract为了研究辐照气氛中氧气含量对聚醚醚酮(PEEK)薄膜物理化学性能的影响,于室温下分别在空气和氧气气氛中研究了PEEK薄膜的电子束辐射效应。采用傅里叶红外光谱(FTIR)、接触角仪、原子力显微镜、热重分析和万能拉力机,测试了不同氧气含量和不同吸收剂量对PEEK薄膜化学结构、表面性质、热稳定性和力学性能的影响。结果表明:在实验吸收剂量范围内,FTIR谱图中未出现新的红外吸收峰;辐照后薄膜的表面粗糙度增加,静态水接触角随吸收剂量的增加而减小;随着辐照气氛中氧气含量的增加,薄膜热稳定性降低;空气和氧气气氛中辐照样品的断裂应力和断裂伸长率随吸收剂量的增加而先增加后减少。
Keyword聚醚醚酮 电子束 辐射效应
Indexed By其他
Language中文
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/32317
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2020年
Affiliation1.中国科学院上海应用物理研究所
2.中国科学院大学
3.上海科技大学
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GB/T 7714
谭海容,邢哲,刘伟华,等. 电子束辐照聚醚醚酮薄膜的氧化效应[J]. 辐射研究与辐射工艺学报,2019,37(02):29-34.
APA 谭海容,邢哲,刘伟华,沈蓉芳,&吴国忠.(2019).电子束辐照聚醚醚酮薄膜的氧化效应.辐射研究与辐射工艺学报,37(02),29-34.
MLA 谭海容,et al."电子束辐照聚醚醚酮薄膜的氧化效应".辐射研究与辐射工艺学报 37.02(2019):29-34.
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