CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2020年
基于位置敏感半导体光电器件的同步辐射光斑位置检测
孟楠; 曾建荣; 李中亮; 边风刚
2020
Source Publication核技术
Volume43Issue:12Pages:18-26
Subtype期刊论文
Abstract同步辐射的光斑位置及强度的稳定性对实验尤为重要,光束稳定性的定量评测是目前光束线站实验中需要解决的一个关键问题。二维Pin-cushion型光电位置灵敏探测器(Position Sensitive Detector,PSD)可同时检测两个方向的光斑位置变化和光斑尺寸,且便于安装和使用。对于5.9 mm×2.0 mm的矩形光斑开展实验研究,获得探测器中心位置水平和垂直方向的分辨率分别达到1.5μm和1.4μm。利用该探测器的输出电流值,可同时监测光通量的变化,信噪比RSN可达4.3×106。该微型探测器能有效满足光束线站光斑位置、光斑尺寸和光通量的监测需求。
Keyword光电位置传感器 光斑位置 同步辐射 二维探测
Indexed ByCSCD
Language中文
CSCD IDCSCD:6867368
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Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/32598
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2020年
Affiliation1.中国科学院上海应用物理研究所;
2.中国科学院上海高等研究院;
3.中国科学院大学
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GB/T 7714
孟楠,曾建荣,李中亮,等. 基于位置敏感半导体光电器件的同步辐射光斑位置检测[J]. 核技术,2020,43(12):18-26.
APA 孟楠,曾建荣,李中亮,&边风刚.(2020).基于位置敏感半导体光电器件的同步辐射光斑位置检测.核技术,43(12),18-26.
MLA 孟楠,et al."基于位置敏感半导体光电器件的同步辐射光斑位置检测".核技术 43.12(2020):18-26.
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