CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2011-2020年
用于小角X射线散射实验的原位装置
贺周同; 曾建荣; 田丰; 唐辉; 戚威; 汪雪; 张灿; 夏汇浩
2017-01-04
Rights Holder中国科学院上海应用物理研究所
Date Available2017-01-04
Country中国
Subtype发明专利
Abstract

本发明公开了一种用于小角X射线散射实验的原位装置。该装置包括:真空及气氛保护系统、应力加载及测量系统、温度加载及测量系统;本发明在应力加载系统中采用拉‑压应力转换设计实现在应力加载过程中样品的自对中;本发明在加温及测量系统中采用特殊设计,在实现宽X射线通道的同时保证温度场的均匀,同时样品的加温温度可达1100摄氏度。本发明结构简单、性能可靠、测量精度高,可在真空或气氛保护环境下同时对样品进行温度、应力加载。本发明配合同步辐射小角X射线散射线站使用,可对被测样品进行在力学使役环境下的微观变形,损伤和断裂过程进行原位检测,为揭示脆性材料样品的形变、微观结构在应力下的变化提供了有效、可靠的测试手段。

Application Date2016-10-27
Patent NumberCN106290426A
Language中文
Application NumberCN201610955590.2
IPC Classification NumberG01n23/201(2006.01)i
Patent Agent杨楠
Agency江苏永衡昭辉律师事务所 32250
Document Type专利
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/33633
Collection中科院上海应用物理研究所2011-2020年
Recommended Citation
GB/T 7714
贺周同,曾建荣,田丰,等. 用于小角X射线散射实验的原位装置. CN106290426A[P]. 2017-01-04.
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