CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2004-2010年
原子力显微镜在聚合物膜研究中的应用
樊文玲,樊文玲
2003-03-10
Source Publication核技术
Issue03
Abstract原子力显微镜(AFM)已被用来研究膜的孔径和孔径分布、膜孔的结构、表面粗糙度、表面接点结构、膜的表面整体形态、膜污染机制和膜材料的选择等7个方面。原子力显微镜作为一种崭新的、有效的物理观测工具,在聚合物膜研究方面仍具有应用潜力。
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/7967
Collection中科院上海应用物理研究所2004-2010年
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GB/T 7714
樊文玲,樊文玲. 原子力显微镜在聚合物膜研究中的应用[J]. 核技术,2003(03).
APA 樊文玲,樊文玲.(2003).原子力显微镜在聚合物膜研究中的应用.核技术(03).
MLA 樊文玲,樊文玲."原子力显微镜在聚合物膜研究中的应用".核技术 .03(2003).
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