Knowledge Management System Of Shanghai Institute of Applied Physics, CAS
| 硅整流二极管组件低温性能测试 | |
| 万理军; 郭兴龙; 潘衡; 徐风雨 | |
| 2009 | |
| Source Publication | 低温与超导
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| Issue | 4 |
| Abstract | 为了验证硅整流二极管组件在低温下能否正常工作,利用电流表、温度计和数据采集卡结合LabVIEW虚拟仪器软件组建的测试系统测试了组件在284K和77K下的伏安特性。实验结果表明组件在低温下依然呈现出二极管的各项性能,可以用于超导磁铁的失超保护系统。 |
| Keyword | 硅整流二极管 超导磁铁 虚拟仪器 |
| Indexed By | CNKI |
| Language | 中文 |
| Funding Project | 应物所项目组 |
| Document Type | 期刊论文 |
| Identifier | http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/8493 |
| Collection | 中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| Corresponding Author | 万理军 |
| Recommended Citation GB/T 7714 | 万理军,郭兴龙,潘衡,等. 硅整流二极管组件低温性能测试[J]. 低温与超导,2009(4). |
| APA | 万理军,郭兴龙,潘衡,&徐风雨.(2009).硅整流二极管组件低温性能测试.低温与超导(4). |
| MLA | 万理军,et al."硅整流二极管组件低温性能测试".低温与超导 .4(2009). |
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| 硅整流二极管组件低温性能测试.pdf（208KB） | 开放获取 | -- | View Application Full Text | |||
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