硅整流二极管组件低温性能测试

CAS OpenIR > 中科院上海应用物理研究所2004-2010年

	硅整流二极管组件低温性能测试
	万理军; 郭兴龙; 潘衡; 徐风雨
	2009
Source Publication	低温与超导
Issue	4
Abstract	为了验证硅整流二极管组件在低温下能否正常工作,利用电流表、温度计和数据采集卡结合LabVIEW虚拟仪器软件组建的测试系统测试了组件在284K和77K下的伏安特性。实验结果表明组件在低温下依然呈现出二极管的各项性能,可以用于超导磁铁的失超保护系统。
Keyword	硅整流二极管超导磁铁虚拟仪器
Indexed By	CNKI
Language	中文
Funding Project	应物所项目组
Document Type	期刊论文
Identifier	http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/8493
Collection	中科院上海应用物理研究所2004-2010年
Corresponding Author	万理军
Recommended Citation GB/T 7714	万理军,郭兴龙,潘衡,等. 硅整流二极管组件低温性能测试[J]. 低温与超导,2009(4).
APA	万理军,郭兴龙,潘衡,&徐风雨.(2009).硅整流二极管组件低温性能测试.低温与超导(4).
MLA	万理军,et al."硅整流二极管组件低温性能测试".低温与超导 .4(2009).

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File name:	硅整流二极管组件低温性能测试.pdf
Format:	Adobe PDF

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