CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2004-2010年
上海同步辐射装置次谐波聚束腔中二次电子倍增效应的模拟
张猛; 赵明华
2007-05-10
Source Publication核技术
Issue05
Abstract上海光源直线加速器采用一个次谐波聚束腔组成预注入器,其性能的稳定性和可靠性直接关系到电子束流的品质。二次电子倍增效应是其不稳定性的原因之一,为考察其中的二次电子倍增效应,将上海光源次谐波聚束腔与最普通的重入式谐振腔进行对比。结果表明,在实际使用的工作范围内,优化次谐波腔形状可有效抑制其中的二次电子倍增效应。进一步的考察表明,腔体结构的圆滑设计是抑制二次电子倍增的原因。
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project应物所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/8776
Collection中科院上海应用物理研究所2004-2010年
Corresponding Author张猛
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GB/T 7714
张猛,赵明华. 上海同步辐射装置次谐波聚束腔中二次电子倍增效应的模拟[J]. 核技术,2007(05).
APA 张猛,&赵明华.(2007).上海同步辐射装置次谐波聚束腔中二次电子倍增效应的模拟.核技术(05).
MLA 张猛,et al."上海同步辐射装置次谐波聚束腔中二次电子倍增效应的模拟".核技术 .05(2007).
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