SSRF定时系统硬件温漂性能测试

CAS OpenIR > 中科院上海应用物理研究所2004-2010年

	SSRF定时系统硬件温漂性能测试
	赵黎颖; 殷重先; 刘德康
	2008-02-10
Source Publication	核技术
Issue	02
Abstract	介绍一种利用相移检测硬件温漂性能的测试平台,系统阐述了硬件构架并详细推导了软件算法,具有硬件构建简单、软件算法清晰、检测精度高和通用性广等特点。文章给出了利用该平台测试上海同步辐射光源(Shanghai Synchrotron Radiation Facility,SSRF)定时系统硬件温漂性能的结果。
Keyword	长期温漂相位算法通用总线接口定时系统
Indexed By	CNKI
Language	中文
Funding Project	应物所项目组
Document Type	期刊论文
Identifier	http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/9038
Collection	中科院上海应用物理研究所2004-2010年
Corresponding Author	赵黎颖
Recommended Citation GB/T 7714	赵黎颖,殷重先,刘德康. SSRF定时系统硬件温漂性能测试[J]. 核技术,2008(02).
APA	赵黎颖,殷重先,&刘德康.(2008).SSRF定时系统硬件温漂性能测试.核技术(02).
MLA	赵黎颖,et al."SSRF定时系统硬件温漂性能测试".核技术 .02(2008).

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