CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2004-2010年
SSRF直线加速器束流发射度测量
许珊珊; 叶恺容; 陈永忠
2008-03-10
Source Publication核技术
Issue03
Abstract发射度是衡量束流品质的重要参数,随着加速器技术的不断发展,人们对束流品质要求越来越高,特别是对小发射度的测量要求更高的分辨率。本文基于"多次改变聚焦强度法"的发射度测量原理,讨论了上海同步辐射光源装置(SSRF)直线加速器部分测量技术和测量装置,包括薄透镜的合理采用、多点最小二乘法拟合、截面测量靶的选择和测量软件设计等,以提高发射度测量的准确性和可靠性。测量结果的高稳定性与重复性对接下来即将进行的自由电子激光发射度测量有重要的参考意义。
Keyword直线加速器 束流发射度
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project应物所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/9040
Collection中科院上海应用物理研究所2004-2010年
Corresponding Author许珊珊
Recommended Citation
GB/T 7714
许珊珊,叶恺容,陈永忠. SSRF直线加速器束流发射度测量[J]. 核技术,2008(03).
APA 许珊珊,叶恺容,&陈永忠.(2008).SSRF直线加速器束流发射度测量.核技术(03).
MLA 许珊珊,et al."SSRF直线加速器束流发射度测量".核技术 .03(2008).
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