CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2004-2010年
高频噪声对上海光源储存环束流品质的影响
冀锐敏; 田顺强; 后接; 陈光玲; 刘桂民
2008-05-10
Source Publication核技术
Issue05
Abstract为了向用户提供高品质的同步辐射光,储存环束流应具有好的性能。储存环高频噪声的存在会影响到束流品质。本文基于DKW理论,研究了高频幅度噪声与相位噪声对束流能散度的影响,并分析了束团长度拉伸效应,以及对小间隙插入件U27上微聚焦光束品质的影响。模拟结果显示,位相噪声对束流品质以及辐射光品质的影响比较显著,且阶次越高的辐射光受高频噪声的影响越大。
Keyword上海光源储存环 高频噪声 Dkw理论 束团长度 能散 辐射光通量
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project应物所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/9063
Collection中科院上海应用物理研究所2004-2010年
Corresponding Author冀锐敏
Recommended Citation
GB/T 7714
冀锐敏,田顺强,后接,等. 高频噪声对上海光源储存环束流品质的影响[J]. 核技术,2008(05).
APA 冀锐敏,田顺强,后接,陈光玲,&刘桂民.(2008).高频噪声对上海光源储存环束流品质的影响.核技术(05).
MLA 冀锐敏,et al."高频噪声对上海光源储存环束流品质的影响".核技术 .05(2008).
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