CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2004-2010年
利用软印刷结合扩散制作纳米颗粒样品的方法
牛冬校; 冯晓录; 蔡翔舟; 沈文庆
2008-04-10
Source Publication核技术
Issue04
Abstract扫描探针显微镜(SPM,Scanning Probe Microscopy)是进行纳米材料表面性质测量的有力工具。制样是进行SPM观测的关键性技术。分子间作用力较强的纳米颗粒在制样过程中常常会发生二次聚合形成团簇,给SPM观测带来困难。针对纳米颗粒制样过程中的再聚合问题,本文提出了一种软印刷转印结合扩散的方法。利用基底表面的液膜对转引形成的纳米颗粒分布进行增强的扩散,从而得到适合SPM观测的纳米颗粒样品。验证实验结果表明此方法是一种可用于SPM观测纳米颗粒的有效制样手段。
Keyword纳米颗粒 扫描探针显微镜 二次聚合 软印刷 扩散
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project应物所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/9084
Collection中科院上海应用物理研究所2004-2010年
Corresponding Author牛冬校
Recommended Citation
GB/T 7714
牛冬校,冯晓录,蔡翔舟,等. 利用软印刷结合扩散制作纳米颗粒样品的方法[J]. 核技术,2008(04).
APA 牛冬校,冯晓录,蔡翔舟,&沈文庆.(2008).利用软印刷结合扩散制作纳米颗粒样品的方法.核技术(04).
MLA 牛冬校,et al."利用软印刷结合扩散制作纳米颗粒样品的方法".核技术 .04(2008).
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