CAS OpenIR  > 中科院上海应用物理研究所2004-2010年
一种实用的高精度ADC测试方法
柯新花; 卢宋林; 许瑞年; 许升辉; 李瑞; 沈天健
2008-05-10
Source Publication核技术
Issue05
Abstract模数转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)是模拟数字混合信号系统中的重要模块,是电子器件中的关键器件。随着ADC速度和精度的提高,如何高效、准确地测试其动态和静态参数是ADC测试研究的重点。本文阐述在缺少现成的标准输入信号源情况下进行高精度ADC线性度和分辨率的测试,实现低成本、高可靠性的高精度ADC计算机辅助测试的方法。该方法在几类AD转换卡(数据采集卡)上进行了验证。
Keyword高精度adc 数字信号处理器 有效位数 积分线性度
Indexed ByCNKI
Language中文
Funding Project应物所项目组
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/9110
Collection中科院上海应用物理研究所2004-2010年
Corresponding Author柯新花
Recommended Citation
GB/T 7714
柯新花,卢宋林,许瑞年,等. 一种实用的高精度ADC测试方法[J]. 核技术,2008(05).
APA 柯新花,卢宋林,许瑞年,许升辉,李瑞,&沈天健.(2008).一种实用的高精度ADC测试方法.核技术(05).
MLA 柯新花,et al."一种实用的高精度ADC测试方法".核技术 .05(2008).
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